1、黑盒測(cè)試又稱功能測(cè)試，是著眼于程序的外部特征，不考慮程序的內(nèi)部邏輯結(jié)構(gòu)。

2、測(cè)試者把被測(cè)程序看成一個(gè)黑盒，不用關(guān)心程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。

3、黑盒測(cè)試是在程序接口處進(jìn)行測(cè)試，只檢查程序功能是否能按照規(guī)格說(shuō)明書(shū)的規(guī)定正常使用，程序是否能適當(dāng)?shù)亟邮蛰斎霐?shù)據(jù)產(chǎn)生正確的輸出信息，且保持外部信息的完整性。

4、黑盒測(cè)試主要采用的技術(shù)有：等價(jià)分類法、邊沿值分析法、錯(cuò)誤推測(cè)法和因果圖等技術(shù)。

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